试题详情
多项选择题X线头影测量的主要应用有

A、可研究颅面生长发育

B、可确定错畸形的矫治设计

C、可对牙、颅面畸形作诊断分析

D、可用于研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化

E、可作为外科正畸诊断和矫治设计依据

  • A, ,B, ,C, ,D, ,E

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